태그>semiconductor(총 6개의 글)

'semiconductor' 관련 최근글

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  Nano Experts

  제일기획 김현진프로/Mediakim.com  by 루싸Russa|2010/10/11 15:21

  Nano Experts

  DDR3, SAMSUNG, Semiconductor, nano

• [OPTICAL EXPO 2009] 국내 최대 광응용 및 광전자 전문 전시회....

  Blameless life....  by Blameless|2009/02/26 02:11

  OPTICAL EXPO IS .OPTICAL EXPO 2009는 SEMICONDUCTOR, FPD, LED, VISION, 광학필름, 레이저,SOLAR CELL, 부품소재 관련 광응용 검사 및 측정 전시회로써 국내외 우수업체들과 연계하여 개최되는 광응용 및 광전자산업 전문 (MANUFACTURE,INSPE..

  LED, SEMICONDUCTOR, FPD, VISION, 광학필름

• The Development of a Novel Stacked Package: Package in Pa..

  less than more  by 웡구|2007/10/17 20:34

  역시 논문 숙제 지금 보니 번역을 발로 했구나. 그러쿠나 -_-; 요약 적층된 CSP (Chip Scale Package) 또는 FBGA (Fine-pitch Ball Grid Array)는 개발되자 마자 대표적으로 휴대 전화를 포함한 많은 휴대용 제품에 집적, 적용되었다.이러한 적층 CSP는 오늘날 휴..

  논문, 반도체, paper, DRAM, semiconductor

• Evaluation of Final Test Process in 64-Mbit DRAM Manufacturing ..

  less than more  by 웡구|2007/10/17 20:30

  논문 숙제. 파이널 테스트 공정에서 원가와 TAT에 중점을 두고 최대한의 효율을 내고자 실험한 생산 방식이다. 동시 생산가능 칩 수와 몇 대의 설비에서 최적의 원가와 TAT가 나오는지 보여준다. 단지, 시뮬레이션 뿐이고 변수가 너무 적어 현업에 적용하기에는 큰 무리가 있지만..

  논문, papaer, simulation, 시뮬레이션, DRAM

• Universal Test Interface

  less than more  by 웡구|2007/08/11 07:54

  임베디드 디램에서 사용하는 컨셉. 사실 새로운 것은 없다. 이미 사골까지 우려먹은 기법이기 때문에. 단지 숙제받아 번역했을 뿐. Universal_Test_Interface_for_Embedded_DRAM_Testing.pdf 첨부참조

  DRAM, 디램, 반도체, semiconductor, 첨부

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  Fermi level / Fermi-Dirac Distribution

  NEVER STOP CLIMBING  by chungsuk|2006/07/01 17:25

  여기서 Ef는 흔히 페르미 에너지 (Fermi energy) 또는 페르미 레벨 (Fermi Level)이라 부르는 값이지만 정확하게는 chemical potential이라 불리우는 값이다. 기존의 반도체 공학 교재에는 페르미 레벨..

  Fermi-Dirac, Statistical-Mechanics, 물리, physics, 반도체